2019年10月より、下記に管理する研究設備の共用化を図り皆様にお使いいただけるようになりました。
当該設備の利用方法、利用料金等に関しては下記のリンク先のファイルをご覧ください。
お使いいただける共通設備
(カッコ内の数字は所内整理番号)
加速器・放射線
- 重イオン加速装置(タンデム方式バンデグラーフ型静電重量イオン加速器) (#1)
- ペレトロン粒子加速器装置 (#30)
- 遮蔽体付ゲルマニウム半導体ガンマ線測定装置 (#19)
- Ge半導体検出装置 (#33)
- 液体シンチレーションカウンタ (#28)
- ホールボディカウンタ (#39)
- スキャナタイプ放射線画像解析装置 (#29)
構造回折
- 粉末X線回折装置(フィリップス製) (#11)
- 粉末X線回折装置(パナリティカル製) (#12)
- X線回折装置 (#32)
- 単結晶X線構造解析装置 (#23)
- 核燃用XRD (#3)
- ゲルろ過クロマトグラフィー装置 (#37)
- 高精度ガス/蒸気吸着装置 (#42)
元素分析
- 元素分析装置 (#21)
- 核燃用XRF (#2)
- 高周波誘導結合プラズマ発光分析装置 (#27)
- 酸素窒素分析装置 (#14)
- 炭素・硫黄分析装置 (#38)
- 高周波誘導結合プラズマ質量分析装置 (#22)
熱分析
分光分析
- 紫外可視近赤外分光光度計 (#26)
- 顕微レーザーラマン分光分析装置 (#31)
- 動的光散乱装置 (#36)
- 核磁気共鳴装置 (#20)
- パルス核磁気共鳴分光装置 (#35)
- 熱レンズ顕微鏡システム (#5)
- 核燃用マイクロ分析システム (#4)
形態観察
- 透過型電子顕微鏡装置 (#10)
- 走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分析装置 (#34)
- レーザー回折式粒度分布測定装置 (#40)
その他の分析装置
材料合成・試験装置
- 高精度熱膨張測定装置 (#6)
- レーザーフラッシュ法熱拡散率測定装置 (#7)
- 高温示差走査熱量計 (#8)
- 熱重量-示差熱分析装置(質量分析装置付属) (#9)
- 万能材料試験機 (#13)
- 小型高周波誘導加熱装置 (#15)
- 電界放射型走査電子顕微鏡 (#16)
- 多目的高温炉 (#17)
- 誘導加熱式高温熱処理装置 (#18)
- 小型卓上試験機 (#43)
規約・申込み
問い合わせ先
科学技術創成研究院業務推進課 研究院事務第3グループ
- 所在地
- 〒152-8550 東京都目黒区大岡山2-12-1(N1-16)
- Tel
- 03-5734-3052
- facility_usezc.iir.titech.ac.jp